【英文标准名称】:StandardPracticeforDeterminingResponseCharacteristicsandDesignIntegrityofArcRatedFinishedProductsinanElectricArcExposure
【原文标准名称】:电弧暴露法测定电弧额定成品的响应特性和设计完整性的标准实施规范
【标准号】:ASTMF2621-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C66
【国际标准分类号】:13_260
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Sinteredmetalmaterials,excludinghardmetals-Tensiletestpieces(ISO2740:1999);GermanversionENISO2740:1999
【原文标准名称】:烧结金属材料(不包括硬质合金).拉伸试件
【标准号】:DINENISO2740-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验棒;处理;处理;尺寸;粉末冶金;烧结金属;烧结产品;夹紧装置;烧结材料;抗拉试验工件;材料有屑加工;抗拉试验;模型;试样;试验
【英文主题词】:Clampingdevices;Dimensions;Material-removalprocesses;Matrices;Powdermetallurgy;Processing;Sintermaterials;Sinteredmetals;Sinteredproducts;Tensiletestpieces;Tensiletesting;Testbars;Testspecimens;Testing;Tests;Treatment
【摘要】:Thedocumentspecifiesthediecavitydimensionsusedformakingtensiletestpiecesbypressingandsintering,and,bymetalinjectionmoulding(MIM)andsintering.
【中国标准分类号】:H70
【国际标准分类号】:77_040_10;77_160
【页数】:11P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
| 英文名称： | Families and products of bipolar memory for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 作废; |
| 发布部门： | 国家标准局 |
| 发布日期： | 1982-12-31 |
| 实施日期： | 1983-10-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 起草单位： | 全国集成电路标准化技术委员会 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 49页 |
适用范围
本标准规定了半导集成电路双极型存储器（以下简称器件）各系列和品种的逻辑功能、外引线排列和主要电参数。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路